Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB - Chinesische nationale Normen
Seite 358
GB/T 14123-2012 (05.11.2012)
Mechanical shock - Testing machines - Characteristics and performance
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 550.10 EUR weitere informationen
GB/T 14124-2024 (31.12.2024)
Mechanical vibration and shock—Vibration of fixed structures—Guidelines for the measurement of vibrations and evaluation of their effects on structures
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 859.10 EUR weitere informationen
GB/T 1413-2023 (17.03.2023)
Series 1 freight containers—Classification,dimensions and ratings
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 329.60 EUR weitere informationen
GB/T 14139-2019 (04.06.2019)
Silicon epitaxial wafers
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 205.00 EUR weitere informationen
GB 1414-1979 (01.01.1979)
-
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
GB/T 1414-2013 (09.06.2013)
General purpose metric screw threads - The plan for pipe systems
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 153.50 EUR weitere informationen
GB/T 14140-2025 (01.08.2025)
Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 215.30 EUR weitere informationen
GB/T 14141-2009 (30.10.2009)
Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 235.90 EUR weitere informationen
GB/T 14142-2017 (29.09.2017)
Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon—Etching technique
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 143.20 EUR weitere informationen
GB/T 14144-2009 (30.10.2009)
Testing method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 215.30 EUR weitere informationen
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
