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GB - Chinesische nationale Normen
Seite 375
GB/T 14118-2026 (28.09.2026)
Harmonic drive reducers
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GB/T 14119-1993 (21.01.1993)
Blankdetail specification for semiconductor inte-grated circuit fusible-link programmable bipolar read-only memories
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GB/T 14123-2012 (05.11.2012)
Mechanical shock - Testing machines - Characteristics and performance
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GB/T 14124-2024 (31.12.2024)
Mechanical vibration and shock—Vibration of fixed structures—Guidelines for the measurement of vibrations and evaluation of their effects on structures
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GB/T 1413-2023 (17.03.2023)
Series 1 freight containers—Classification,dimensions and ratings
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GB/T 14139-2019 (04.06.2019)
Silicon epitaxial wafers
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GB 1414-1979 (01.01.1979)
-
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GB/T 1414-2013 (09.06.2013)
General purpose metric screw threads - The plan for pipe systems
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GB/T 14140-2025 (01.08.2025)
Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
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GB/T 14141-2009 (30.10.2009)
Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
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