Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB - Čínské národní normy
Stránka 375
GB/T 14118-2026 (28.09.2026)
Harmonic drive reducers
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
GB/T 14119-1993 (21.01.1993)
Blankdetail specification for semiconductor inte-grated circuit fusible-link programmable bipolar read-only memories
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 502.80 USD viac informácií
GB/T 14123-2012 (05.11.2012)
Mechanical shock - Testing machines - Characteristics and performance
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 640.80 USD viac informácií
GB/T 14124-2024 (31.12.2024)
Mechanical vibration and shock—Vibration of fixed structures—Guidelines for the measurement of vibrations and evaluation of their effects on structures
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 1 000.80 USD viac informácií
GB/T 1413-2023 (17.03.2023)
Series 1 freight containers—Classification,dimensions and ratings
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 384.00 USD viac informácií
GB/T 14139-2019 (04.06.2019)
Silicon epitaxial wafers
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 238.80 USD viac informácií
GB 1414-1979 (01.01.1979)
-
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
GB/T 1414-2013 (09.06.2013)
General purpose metric screw threads - The plan for pipe systems
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 178.80 USD viac informácií
GB/T 14140-2025 (01.08.2025)
Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 250.80 USD viac informácií
GB/T 14141-2009 (30.10.2009)
Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 274.80 USD viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
