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GB - Chinesische nationale Normen
Seite 4932
GB/T 4934.2-2008 (17.06.2008)
Instrument for soil test - Shear apparatus - Part 2Field vane shear apparatus
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 223.70 EUR weitere informationen
GB/T 4935.1-2008 (21.11.2008)
Instrument for soil test - Oedometer - Part 1: Single level arm oedometer
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 223.70 EUR weitere informationen
GB/T 4935.2-2009 (12.06.2009)
Instrument for soil test - Oedometer - Part 2: Pneumatic oedometer
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Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 298.60 EUR weitere informationen
GB/T 4937.1-2006 (23.08.2006)
Semiconductor devicesMechanical and climatic test methodsPart 1: General
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ab 143.40 EUR weitere informationen
GB/T 4937.10-2025 (31.12.2025)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 10: Mechanical shock—Device and subassembly
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ab 400.20 EUR weitere informationen
GB/T 4937.11-2018 (17.09.2018)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11:Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method
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ab 127.30 EUR weitere informationen
GB/T 4937.12-2018 (17.09.2018)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency
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ab 127.30 EUR weitere informationen
GB/T 4937.13-2018 (17.09.2018)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere
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ab 127.30 EUR weitere informationen
GB/T 4937.14-2018 (17.09.2018)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 14: Robustness of terminationslead integrity
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ab 298.60 EUR weitere informationen
GB/T 4937.15-2018 (17.09.2018)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
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