Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
GB - Čínské národní normy
Strana 4932
GB/T 4934.2-2008 (17.06.2008)
Instrument for soil test - Shear apparatus - Part 2Field vane shear apparatus
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 223.70 EUR více informací
GB/T 4935.1-2008 (21.11.2008)
Instrument for soil test - Oedometer - Part 1: Single level arm oedometer
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 223.70 EUR více informací
GB/T 4935.2-2009 (12.06.2009)
Instrument for soil test - Oedometer - Part 2: Pneumatic oedometer
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 298.60 EUR více informací
GB/T 4937.1-2006 (23.08.2006)
Semiconductor devicesMechanical and climatic test methodsPart 1: General
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 143.40 EUR více informací
GB/T 4937.10-2025 (31.12.2025)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 10: Mechanical shock—Device and subassembly
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 400.20 EUR více informací
GB/T 4937.11-2018 (17.09.2018)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11:Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 127.30 EUR více informací
GB/T 4937.12-2018 (17.09.2018)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 127.30 EUR více informací
GB/T 4937.13-2018 (17.09.2018)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 127.30 EUR více informací
GB/T 4937.14-2018 (17.09.2018)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 14: Robustness of terminationslead integrity
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 298.60 EUR více informací
GB/T 4937.15-2018 (17.09.2018)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
od 127.30 EUR více informací
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
