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Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
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Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
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Lithium tantalate and lithium niobate crystals for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
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Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
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Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 3: Standard outlines and lead connections
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Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
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Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
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Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 3: Standard outlines and lead connections
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Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 6: Phase jitter measurement method for quartz crystal oscillators and SAW oscillators - Application guidelines
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