Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Stránka 3323
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
Dostupné prevedenie: Tlačené
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
Dostupné prevedenie: Tlačené
Lithium tantalate and lithium niobate crystals for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 3: Standard outlines and lead connections
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
Dostupné prevedenie: Tlačené
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification
Dostupné prevedenie: Tlačené
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 3: Standard outlines and lead connections
Dostupné prevedenie: Tlačené
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 6: Phase jitter measurement method for quartz crystal oscillators and SAW oscillators - Application guidelines
Dostupné prevedenie: Tlačené