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Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 7: Měření obsahu vnitřní vlhkosti a analýza dalších zbytkových plynů.
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
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Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 11: Rychlá změna teploty - Metoda dvou lázní. (Text normy není součástí výtisku).
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Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 11: Rychlá změna teploty - Metoda dvou lázní. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
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