Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Page 3383
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 7: Měření obsahu vnitřní vlhkosti a analýza dalších zbytkových plynů.
Available languages: Czech
Available design: Print design
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
Available languages: Czech preface only
Available design: Print design
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 11: Rychlá změna teploty - Metoda dvou lázní. (Text normy není součástí výtisku).
Available languages: Czech preface only
Available design: Print design
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 11: Rychlá změna teploty - Metoda dvou lázní. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design