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Device embedding assembly technology - Part 2-7: Guidelines - Accelerated stress testing of passive embedded circuit boards
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Device embedding assembly technology - Part 2-8: Guidelines - Warpage control of active device embedded substrate
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Device embedding assembly technology - Part 2-9: Guidelines - Concept of JISSO level in the electronic assembly technology industries
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Semiconductor devices - Stress migration test standard - Part 1: Copper stress migration test standard
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Cause and effect matrix
(Matrice des causes et effets)
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Corrigendum 1 - Cause and effect matrix
(Corrigendum 1 - Matrice des causes et effets)
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Hydraulic machines - Francis turbine pressure fluctuation transposition
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Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1: Basic methods for the measurement
(Techniques de mesure des oscillateurs piezoelectriques, dielectriques et electrostatiques - Partie 1: Methodes fondamentales pour le mesurage)
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Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method
(Techniques de mesure des oscillateurs piezoelectriques, dielectriques et electrostatiques - Partie 2 : Methode de mesure de la gigue de phase)
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Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 3: Frequency aging test methods
(Techniques de mesure des oscillateurs piezoelectriques, dielectriques et electrostatiques - Partie 3: Methode d’essai du vieillissement en frequence)
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