JIS - Japanische technische Standards

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JIS C5402-4-1:2005 (20.12.2005)

JIS C5402-4-1:2005 (20.12.2005)

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-1: Voltage stress tests -- Test 4a: Voltage proof

Verfügbare Sprachen: Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 1 800.00 EUR weitere informationen
JIS C5402-4-2:2005 (20.3.2005)

JIS C5402-4-2:2005 (20.03.2005)

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-2: Voltage stress tests -- Test 4b: Partial discharge

Verfügbare Sprachen: Englisch, Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 4 000.00 EUR weitere informationen
JIS C5402-4-3:2005 (20.3.2005)

JIS C5402-4-3:2005 (20.03.2005)

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-3: Voltage stress tests -- Test 4c: Voltage proof of pre-insulated crimp barrels

Verfügbare Sprachen: Englisch, Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 4 000.00 EUR weitere informationen
JIS C5402-5-1:2005 (20.3.2005)

JIS C5402-5-1:2005 (20.03.2005)

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 5-1: Current-carrying capacity tests -- Test 5a: Temperature rise

Verfügbare Sprachen: Englisch, Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 4 000.00 EUR weitere informationen
JIS C5402-5-2:2005 (20.3.2005)

JIS C5402-5-2:2005 (20.03.2005)

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 5-2: Current-carrying capacity tests -- Test 5b: Current-temperature derating

Verfügbare Sprachen: Englisch, Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 4 000.00 EUR weitere informationen
JIS C5402-6-1:2005 (20.3.2005)

JIS C5402-6-1:2005 (20.03.2005)

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-1: Dynamic stress tests -- Test 6a: Acceleration, steady state

Verfügbare Sprachen: Englisch, Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 4 000.00 EUR weitere informationen
JIS C5402-6-2:2005 (20.3.2005)

JIS C5402-6-2:2005 (20.03.2005)

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-2: Dynamic stress tests -- Test 6b: Bump

Verfügbare Sprachen: Englisch, Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 4 000.00 EUR weitere informationen
JIS C5402-6-3:2005 (20.3.2005)

JIS C5402-6-3:2005 (20.03.2005)

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-3: Dynamic stress tests -- Test 6c: Shock

Verfügbare Sprachen: Englisch, Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 4 000.00 EUR weitere informationen
JIS C5402-6-4:2005 (20.3.2005)

JIS C5402-6-4:2005 (20.03.2005)

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-4: Dynamic stress tests -- Test 6d: Vibration (sinusoidal)

Verfügbare Sprachen: Englisch, Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 4 000.00 EUR weitere informationen
JIS C5402-7-1:2016 (22.3.2016)

JIS C5402-7-1:2016 (22.03.2016)

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 7-1: Impact tests (free connectors) -- Test 7a: Free fall (repeated)

Verfügbare Sprachen: Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 1 800.00 EUR weitere informationen
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