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JIS - Japanische technische Standards
Seite 654
JIS K0164:2023 (20.02.2023)
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of boron in silicon
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JIS K0167:2011 (22.03.2011)
Surface chemical analysis -- Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy -- Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
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JIS K0168:2011 (22.03.2011)
Surface chemical analysis -- Information format for static secondary-ion mass spectrometry
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JIS K0169:2012 (20.04.2012)
Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry (SIMS) -- Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
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JIS K0170-1:2019 (20.03.2019)
Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 1: Ammonium nitrogen
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JIS K0170-2:2019 (20.03.2019)
Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 2: Nitrite nitrogen and nitrate nitrogen
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JIS K0170-3:2019 (20.03.2019)
Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 3: Total nitrogen
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JIS K0170-4:2019 (20.03.2019)
Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 4: Orthophosphate and total phosphorus
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JIS K0170-5:2019 (20.03.2019)
Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 5: Phenol index
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JIS K0170-6:2019 (20.03.2019)
Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 6: Fluoride
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