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JIS - Japanische technische Standards
Seite 919
JIS R1636:1998 (31.01.1998)
Test method for thickness of fine ceramic thin films -- Film thickness by contact probe profilometer
Verfügbare Sprachen: Englisch, Japanisch
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ab 4 000.00 EUR weitere informationen
JIS R1637:1998 (31.01.1998)
Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array
Verfügbare Sprachen: Englisch, Japanisch
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ab 4 000.00 EUR weitere informationen
JIS R1638:1999 (31.05.1999)
Test methods of iso-electric point of fine ceramic powders
Verfügbare Sprachen: Japanisch
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ab 2 600.00 EUR weitere informationen
JIS R1639-1:1999 (31.05.1999)
Test methods of properties of fine ceramic granules Part 1: Size distribution of granules
Verfügbare Sprachen: Japanisch
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ab 2 200.00 EUR weitere informationen
JIS R1639-2:1999 (31.05.1999)
Test methods of properties of fine ceramic granules Part 2: Bulk density
Verfügbare Sprachen: Japanisch
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ab 1 800.00 EUR weitere informationen
JIS R1639-3:1999 (31.05.1999)
Test methods of properties of fine ceramic granules Part 3: Drying loss
Verfügbare Sprachen: Japanisch
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JIS R1639-4:1999 (31.05.1999)
Test methods of properties of fine ceramic granules Part 4: Flowability
Verfügbare Sprachen: Japanisch
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JIS R1639-5:2007 (20.02.2007)
Test methods of properties of fine ceramic granules Part 5: Compressive strength of a single granule
Verfügbare Sprachen: Japanisch
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JIS R1639-6:2007 (20.02.2007)
Test methods of properties of fine ceramic granules Part 6: Compressive behavior of the granule beds
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JIS R1640:2002 (31.01.2002)
Methods for the quantitative phase analysis of silicon nitride
Verfügbare Sprachen: Japanisch
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