Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Seite 2977
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Mixing and detection semiconductor UHF diodes. Electric parameter measurement methods
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Polovodičové súčiastky. Skúšky kvality pokovovania (Norma na priame používanie ako STN).
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Usmernenia na metódu merania nelinearity zariadení s povrchovou akustickou vlnou (SAW) a objemovou akustickou vlnou (BAW) pri rádiových frekvenciách (RF) (Norma na priame používanie ako STN).
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Guidelines for the measurement method of power durability for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) applications
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Radio frequency (RF) bulk acoustic wave (BAW) filters of assessed quality - Part 1: Generic specification
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Vysokofrekvenčné (vf) filtre s objemovou akustickou vlnou (BAW) stanovenej kvality. Časť 2: Návod na používanie (Norma na priame používanie ako STN).
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification
Verfügbare Ausführung: Gedruckt