STN - Slovenské národní normy

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Mixing and detection semiconductor UHF diodes. Electric parameter measurement methods

Dostupné prevedenie: Tlačené

Polovodičové súčiastky. Skúšky kvality pokovovania (Norma na priame používanie ako STN).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Usmernenia na metódu merania nelinearity zariadení s povrchovou akustickou vlnou (SAW) a objemovou akustickou vlnou (BAW) pri rádiových frekvenciách (RF) (Norma na priame používanie ako STN).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Guidelines for the measurement method of power durability for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) applications

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Radio frequency (RF) bulk acoustic wave (BAW) filters of assessed quality - Part 1: Generic specification

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Vysokofrekvenčné (vf) filtre s objemovou akustickou vlnou (BAW) stanovenej kvality. Časť 2: Návod na používanie (Norma na priame používanie ako STN).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification

Dostupné prevedenie: Tlačené