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Integrated circuits. Memory devices pin configurations
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Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
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Polovodičové súčiastky. Integrované obvody. Časť 20: Kmeňová norma pre vrstvové integrované obvody a hybridné integrované obvody.
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Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1: General
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
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