STN - Slowakische nationale Normen

Seite 2996

78198 gefundene Produkte
Ordnen nach:
  • Relevanz
    • Relevanz
    • Datum (das neueste)
    • Datum (das älteste)
STN EN 61964 (1.8.2001)

STN EN 61964 (01.08.2001)

Integrated circuits. Memory devices pin configurations

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN IEC 60748-11 (1.10.1993)

STN IEC 60748-11 (01.10.1993)

Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits

Verfügbare Sprachen: Tschechisch

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN IEC 60748-20 (1.1.1993)

STN IEC 60748-20 (01.01.1993)

Polovodičové súčiastky. Integrované obvody. Časť 20: Kmeňová norma pre vrstvové integrované obvody a hybridné integrované obvody.

Verfügbare Sprachen: Slowakisch

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN IEC 60748-1 (1.10.1993)

STN IEC 60748-1 (01.10.1993) Ungültige

Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1: General

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN EN 60749-1 (1.1.2004)

STN EN 60749-1 (01.01.2004)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN EN 60749-2 (1.2.2003)

STN EN 60749-2 (01.02.2003)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN EN 60749-3 (1.10.2017)

STN EN 60749-3 (01.10.2017)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN EN 60749-4 (1.10.2017)

STN EN 60749-4 (01.10.2017)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN EN 60749-5 (1.1.2018)

STN EN 60749-5 (01.01.2018)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN EN IEC 60749-5 (1.4.2024)

STN EN IEC 60749-5 (01.04.2024)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.