STN - Slovenské národní normy

Integrated circuits. Memory devices pin configurations

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits

Dostupné jazyky: Česky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Polovodičové súčiastky. Integrované obvody. Časť 20: Kmeňová norma pre vrstvové integrované obvody a hybridné integrované obvody.

Dostupné jazyky: Slovensky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1: General

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Tlačené