STN - Slowakische nationale Normen

Seite 3003

78198 gefundene Produkte
Ordnen nach:
  • Relevanz
    • Relevanz
    • Datum (das neueste)
    • Datum (das älteste)
STN EN 60749-10 (1.2.2003)

STN EN 60749-10 (01.02.2003) Ungültige

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 10: Mechanical shock

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN EN 60749-12 (1.2.2003)

STN EN 60749-12 (01.02.2003) Ungültige

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 12: Vibration, variable frequency

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN EN 60749-13 (1.2.2003)

STN EN 60749-13 (01.02.2003) Ungültige

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 13: Salt atmosphere

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN EN 60749-15 (1.11.2003)

STN EN 60749-15 (01.11.2003) Ungültige

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN EN 60749-15 (1.4.2011)

STN EN 60749-15 (01.04.2011) Ungültige

Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 15: Odolnosť súčiastok na montáž priechodnými otvormi proti spájkovacej teplote (Norma na priame používanie ako STN). (Platnosť do 18.8.2023).

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN EN 60749-17 (1.11.2003)

STN EN 60749-17 (01.11.2003) Ungültige

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 17: Neutron irradiation

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN EN 60749-18 (1.10.2003)

STN EN 60749-18 (01.10.2003) Ungültige

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN EN 60749-20 (1.1.2004)

STN EN 60749-20 (01.01.2004) Ungültige

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN EN 60749-20 (1.4.2010)

STN EN 60749-20 (01.04.2010) Ungültige

Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 20: Odolnosť plastových puzdier SMD proti kombinovanému pôsobeniu vlhka a spájkovacieho tepla (Norma na priame používanie ako STN). (Platnosť do 5.10.2023).

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

STN EN 60749-21 (1.8.2005)

STN EN 60749-21 (01.08.2005) Ungültige

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 21: Solderability

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.