STN - Slovak standards

Page 3003

78198 products found
Sort by:
  • relevancy
    • relevancy
    • date (latest)
    • date (oldest)
STN EN 60749-10 (1.2.2003)

STN EN 60749-10 (01/02/2003) Withdrawn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 10: Mechanical shock

Available design: Print design

STN EN 60749-12 (1.2.2003)

STN EN 60749-12 (01/02/2003) Withdrawn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 12: Vibration, variable frequency

Available design: Print design

STN EN 60749-13 (1.2.2003)

STN EN 60749-13 (01/02/2003) Withdrawn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 13: Salt atmosphere

Available design: Print design

STN EN 60749-15 (1.11.2003)

STN EN 60749-15 (01/11/2003) Withdrawn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices

Available design: Print design

STN EN 60749-15 (1.4.2011)

STN EN 60749-15 (01/04/2011) Withdrawn

Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 15: Odolnosť súčiastok na montáž priechodnými otvormi proti spájkovacej teplote (Norma na priame používanie ako STN). (Platnosť do 18.8.2023).

Available design: Print design

STN EN 60749-17 (1.11.2003)

STN EN 60749-17 (01/11/2003) Withdrawn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 17: Neutron irradiation

Available design: Print design

STN EN 60749-18 (1.10.2003)

STN EN 60749-18 (01/10/2003) Withdrawn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Available design: Print design

STN EN 60749-20 (1.1.2004)

STN EN 60749-20 (01/01/2004) Withdrawn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat

Available design: Print design

STN EN 60749-20 (1.4.2010)

STN EN 60749-20 (01/04/2010) Withdrawn

Polovodičové súčiastky. Mechanické a klimatické skúšobné metódy. Časť 20: Odolnosť plastových puzdier SMD proti kombinovanému pôsobeniu vlhka a spájkovacieho tepla (Norma na priame používanie ako STN). (Platnosť do 5.10.2023).

Available design: Print design

STN EN 60749-21 (1.8.2005)

STN EN 60749-21 (01/08/2005) Withdrawn

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 21: Solderability

Available design: Print design

Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.