Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: STN EN 60749-20
Ausgabedatum: 01.01.2004
Seiten: 27
Anmerkung: Ungültige
Land: Slowakische technische Norm