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UNE - Spanische nationale Normen
Seite 3032
UNE-EN IEC 60749-15:2020 (01.11.2020)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in November of 2020.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 59.80 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-16:2003 (21.11.2003)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Verfügbare Sprachen: Englisch, Spanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 47.00 EUR weitere informationen
UNE-EN IEC 60749-17:2019 (01.06.2019)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in June of 2019.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 52.90 EUR weitere informationen
UNE-EN IEC 60749-18:2019 (01.07.2019)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2019.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 70.60 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-19:2003 (21.11.2003)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Verfügbare Sprachen: Englisch, Spanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 35.30 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011 (19.01.2011) Change
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Verfügbare Sprachen: Englisch, Spanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 31.40 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-2:2003 (30.05.2003)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure.
Verfügbare Sprachen: Englisch, Spanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 40.20 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-20-1:2009 (01.09.2009)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat (Endorsed by AENOR in September of 2009.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ab 111.70 EUR weitere informationen
UNE-EN IEC 60749-20-1:2026 (01.04.2026)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in April of 2026.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 91.10 EUR weitere informationen
UNE-EN IEC 60749-20:2020 (01.11.2020)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in November of 2020.)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 79.40 EUR weitere informationen
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