Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
UNE - Španělské národní normy
Stránka 3032
UNE-EN IEC 60749-15:2020 (01.11.2020)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in November of 2020.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 59.80 EUR viac informácií
UNE-EN 60749-16:2003 (21.11.2003)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 47.00 EUR viac informácií
UNE-EN IEC 60749-17:2019 (01.06.2019)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in June of 2019.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 52.90 EUR viac informácií
UNE-EN IEC 60749-18:2019 (01.07.2019)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2019.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 70.60 EUR viac informácií
UNE-EN 60749-19:2003 (21.11.2003)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 35.30 EUR viac informácií
UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011 (19.01.2011) Change
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 31.40 EUR viac informácií
UNE-EN 60749-2:2003 (30.05.2003)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure.
Dostupné jazyky: Anglicky, Španielsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 40.20 EUR viac informácií
UNE-EN 60749-20-1:2009 (01.09.2009)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat (Endorsed by AENOR in September of 2009.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 111.70 EUR viac informácií
UNE-EN IEC 60749-20-1:2026 (01.04.2026)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in April of 2026.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 91.10 EUR viac informácií
UNE-EN IEC 60749-20:2020 (01.11.2020)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in November of 2020.)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 79.40 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
