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UNE - Spanische nationale Normen
Seite 3035
UNE-EN 60749-32:2004 (18.03.2004)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Verfügbare Sprachen: Englisch, Spanisch
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ab 35.30 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-32:2004/A1:2011 (19.01.2011) Change
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Verfügbare Sprachen: Englisch, Spanisch
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ab 35.30 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-33:2005 (16.03.2005)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Verfügbare Sprachen: Englisch, Spanisch
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ab 40.20 EUR weitere informationen
UNE-EN IEC 60749-34-1:2025 (01.09.2025)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in September of 2025.)
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ab 77.40 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-34:2011 (20.07.2011)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 34: Power cycling
Verfügbare Sprachen: Englisch, Spanisch
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ab 59.80 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-35:2006 (01.01.2007)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006) (Endorsed by AENOR in January of 2007.)
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ab 68.60 EUR weitere informationen
UNE-EN 60749-36:2004 (18.03.2004)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 36: Acceleration, steady state
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ab 35.30 EUR weitere informationen
UNE-EN IEC 60749-37:2022 (01.01.2023)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in January of 2023.)
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UNE-EN 60749-38:2008 (01.09.2008)
Semiconductor devices- Mechanical and climatic test methods- Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (Endorsed by AENOR in September of 2008.)
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UNE-EN IEC 60749-39:2022 (01.03.2022)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in March of 2022.)
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