ASTM E1127-24 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.10.2024

ASTM E1127-24

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF, Gedruckt

ab 1 529.10 CZK im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM E1127-24

Ausgabedatum: 01.10.2024

Seiten: 6

Land: Amerikanische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films,
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.