ASTM E1127-24 img
Aktivní norma | Vydána: 01.10.2024

ASTM E1127-24

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF, Tištěné

od 63.10 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM E1127-24

Datum vydání: 01.10.2024

Stran: 6

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films,
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.