Ungültige | Herausgegeben: 10.06.2000

ASTM E1250-88(2000) Ungültige

Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices

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Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM E1250-88(2000)

Ausgabedatum: 10.06.2000

Seiten: 10

Anmerkung: Ungültige

Land: Amerikanische technische Norm

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Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
Cobalt-60 irradiators, Electrical conductors-semiconductors, Electronic hardness, Electronic materials/applications, Gamma radiation, Hardness tests-radiation (of semiconductors), Ionizing radiation, Irradiance/irradiation, Low-energy gamma radiation, Photon energy spectrum, Radiation exposure-nuclear materials/applications, Radiation-hardness testing, Silicon-semiconductor applications, ionization chambers to assess the low energy gamma component of

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