Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Practice for Analytically Describing Sputter-Depth-Profile Interface Data by an Extended Logistic Function
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF
Bezeichnung: ASTM E1636-94(1999)
Ausgabedatum: 10.09.1999
Seiten: 7
Anmerkung: Ungültige
Land: Amerikanische technische Norm