Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Practice for Analytically Describing Sputter-Depth-Profile Interface Data by an Extended Logistic Function
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
Označení: ASTM E1636-94(1999)
Datum vydání: 10.09.1999
Stran: 7
Poznámka: Neplatná
Země: Americká technická norma