Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Practice for Analytically Describing Sputter-Depth-Profile Interface Data by an Extended Logistic Function
Available languages: English
Available design: Online Secure PDF
Designation: ASTM E1636-94(1999)
Publication date: 10/09/1999
Pages: 7
Note: Withdrawn
Country: American technical standard