ASTM E2530-06 img
Ungültige | Herausgegeben: 01.11.2006

ASTM E2530-06 Ungültige

Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si(111) Monatomic Steps (Withdrawn 2015)

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF

ab 76.70 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM E2530-06

Ausgabedatum: 01.11.2006

Seiten: 6

Anmerkung: Ungültige

Land: Amerikanische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
atomic force microscope, atomic steps, AFM, calibration, measurement, silicon, z-magnification, ICS Number Code 19.020 (Test conditions and procedures in general), 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.