Neplatné | Vydaná: 01.11.2006

ASTM E2530-06 Neplatné

Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si(111) Monatomic Steps (Withdrawn 2015)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 76.70 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM E2530-06

Dátum vydania: 01.11.2006

Stránok: 6

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
atomic force microscope, atomic steps, AFM, calibration, measurement, silicon, z-magnification, ICS Number Code 19.020 (Test conditions and procedures in general), 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Populárna vydavatelia

celý katalóg