Neplatná | Vydána: 01.11.2006

ASTM E2530-06 Neplatná

Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si(111) Monatomic Steps (Withdrawn 2015)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 76.70 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM E2530-06

Datum vydání: 01.11.2006

Stran: 6

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
atomic force microscope, atomic steps, AFM, calibration, measurement, silicon, z-magnification, ICS Number Code 19.020 (Test conditions and procedures in general), 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Populární vydavatelé

celý katalog