Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Practice for Targeted Defect Detection Using Process Compensated Resonance Testing Via Swept Sine Input for Metallic and Non-Metallic Parts
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF, Gedruckt
Bezeichnung: ASTM E2534-20(2025)
Ausgabedatum: 01.06.2025
Seiten: 10
Land: Amerikanische technische Norm