Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Practice for Targeted Defect Detection Using Process Compensated Resonance Testing Via Swept Sine Input for Metallic and Non-Metallic Parts
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF, Tlačené
Označenie: ASTM E2534-20(2025)
Dátum vydania: 01.06.2025
Stránok: 10
Krajina: Americká technická norma