Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Practice for Targeted Defect Detection Using Process Compensated Resonance Testing Via Swept Sine Input for Metallic and Non-Metallic Parts
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF, Tištěné
Označení: ASTM E2534-20(2025)
Datum vydání: 01.06.2025
Stran: 10
Země: Americká technická norma