Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.04.2024
ASTM E986-04(2024)
Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF, Gedruckt
ab 56.20 EUR
im E-Shop anzeigen
Detailinformationen
Bezeichnung: ASTM E986-04(2024)
Ausgabedatum: 01.04.2024
Seiten: 3
Land: Amerikanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Keywords:electron beam size, E766, graphite fiber, magnification, NIST–SRM 2069B, resolution, SEM, SEM performance, spot size, waveform ,, ICS Number Code 31.120 (Electronic display devices),37.020 (Optical equipment)
Populäre Herausgeber
DIN Normen
BS Normen
ASTM Normen
ISO Normen
IEC Normen
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
