Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.04.2024
ASTM E986-04(2024)
Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF, Tištěné
od 1 358.20 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: ASTM E986-04(2024)
Datum vydání: 01.04.2024
Stran: 3
Země: Americká technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Keywords:electron beam size, E766, graphite fiber, magnification, NIST–SRM 2069B, resolution, SEM, SEM performance, spot size, waveform ,, ICS Number Code 31.120 (Electronic display devices),37.020 (Optical equipment)
Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
