Ungültige | Herausgegeben: 01.01.1996

ASTM F1260M-96 Ungültige

Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric]

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Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM F1260M-96

Ausgabedatum: 01.01.1996

Seiten: 8

Anmerkung: Ungültige

Land: Amerikanische technische Norm

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Annotation

Keywords:
electromigration, electromigration metallization, integrated circuit, microelectronics, open circuit, resistance increase, time-to-failure, ICS Number Code 17.220.20 (Measurement of electrical and magnetic quantities), 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)

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