Neplatné | Vydaná: 01.01.1996

ASTM F1260M-96 Neplatné

Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric]

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 1 900.70 CZK zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM F1260M-96

Dátum vydania: 01.01.1996

Stránok: 8

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
electromigration, electromigration metallization, integrated circuit, microelectronics, open circuit, resistance increase, time-to-failure, ICS Number Code 17.220.20 (Measurement of electrical and magnetic quantities), 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)

Populárna vydavatelia

celý katalóg