Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (?10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF, Norm und Redline – Sicheres Online-PDF, Gedruckt, Gedruckt + redline
Bezeichnung: ASTM F1467-25
Ausgabedatum: 01.06.2025
Seiten: 18
Land: Amerikanische technische Norm