Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 01.06.2025
ASTM F1467-25
Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (?10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF, Norma a Redline - Online zabezpečené PDF, Tištěné, Tisk + redline
od 1 697.80 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: ASTM F1467-25
Datum vydání: 01.06.2025
Stran: 18
Země: Americká technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
Keywords:ionizing radiation effects, microcircuits, radiation hardness, semiconductor devices, X-ray testing,, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)
Populární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
