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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.01.2024
ASTM F980-16(2024)
Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF, Gedruckt
ab 62.50 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: ASTM F980-16(2024)
Ausgabedatum: 01.01.2024
Seiten: 7
Land: Amerikanische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Keywords:annealing factor, annealing function, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, photoconducting device, rapid annealing, semiconductor devices,, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
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