Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 01.01.2024
ASTM F980-16(2024)
Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF, Tlačené
od 62.50 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: ASTM F980-16(2024)
Dátum vydania: 01.01.2024
Stránok: 7
Krajina: Americká technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
Keywords:annealing factor, annealing function, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, photoconducting device, rapid annealing, semiconductor devices,, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Populárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
