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Aktiv Normen | Herausgegeben: 30.11.2011
BS EN 62047-12:2011
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 351.30 USD
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Detailinformationen
Bezeichnung: BS EN 62047-12:2011
Ausgabedatum: 30.11.2011
Seiten: 34
Land: Britische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
ISBN: 978 0 580 76301 4 Status: DefinitivePopuläre Herausgeber
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