Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 30.11.2011
BS EN 62047-12:2011
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures.
(Polovodičové součástky - Mikroelektromechanické součástky - Část 12: Metoda zkoušení ohybové únavy tenkovrstvých materiálů využívající rezonanční vibrace struktur MEMS. )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 7 680.50 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: BS EN 62047-12:2011
Datum vydání: 30.11.2011
Stran: 34
Země: Britská technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
ISBN: 978 0 580 76301 4 Status: DefinitivePopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
