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Aktiv Normen | Herausgegeben: 22.07.2020
BS IEC 62047-27:2017
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevron-tests (MCT).
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 183.40 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: BS IEC 62047-27:2017
Ausgabedatum: 22.07.2020
Seiten: 20
Land: Britische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
ISBN: 978 0 580 89909 6 Status: DefinitivePopuläre Herausgeber
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