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Aktiv Normen | Herausgegeben: 20.04.2021
BS IEC 62047-35:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electromechanical devices.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 269.20 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: BS IEC 62047-35:2019
Ausgabedatum: 20.04.2021
Seiten: 24
Land: Britische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
ISBN: 978 0 580 99495 1 Status: DefinitivePopuläre Herausgeber
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