Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktivní norma | Vydána: 20.04.2021
BS IEC 62047-35:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electromechanical devices.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
od 6 550.90 CZK
zobrazit na eshopu
Podrobné informace
Označení: BS IEC 62047-35:2019
Datum vydání: 20.04.2021
Stran: 24
Země: Britská technická norma
Kde koupit?
Můžete zakoupit na eshop.normservis.czAnotace
ISBN: 978 0 580 99495 1 Status: DefinitivePopulární vydavatelé
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
