BS IEC 62047-43:2024 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 22.03.2024

BS IEC 62047-43:2024

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices.

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt

ab 192.60 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: BS IEC 62047-43:2024

Ausgabedatum: 22.03.2024

Seiten: 22

Land: Britische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

ISBN: 978 0 539 17665 0 Status: Definitive
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.