Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
Bezeichnung: BS IEC 62047-43:2024
Ausgabedatum: 22.03.2024
Seiten: 22
Land: Britische technische Norm