Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Označenie: BS IEC 62047-43:2024
Dátum vydania: 22.03.2024
Stránok: 22
Krajina: Britská technická norma